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Improving the precision of optical metrology with weak measurement
来源: 日期2021-04-19 14:45 点击:

报告题目:Improving the precision of optical metrology with weak measurement

报告时间: 4月23日(周五)16:30-18:00

报告地点: 兴庆校区仲英楼B253

报告人: 陈耕 副研究员

报告摘要:

弱测量由于其独特的信号放大能力,近些年来受到了学术界的广泛研究和关注。然而关于弱测量信号放大能力的本质和其提升测量精度的能力受到了部分学者的质疑。本报告将分析弱测量的后选择带来的利与弊,也就是信号放大与对应的噪声提升,从而阐明弱测量相对于经典测量方法的优势所在。报告人进一步介绍近期若干实验工作:包括利用改进型的弱测量方法实现超越经典极限精度的光学相位精密测量,以及提升光电探测的动态响应范围从而使用更少的光子达到更高的测量精度。

个人简历:

陈耕,男,中国科学技术大学量子信息重点实验室副研究员。2010年获得博士学位,师从郭光灿院士和李传锋教授,研究领域为量子光学与量子信息。主要方向为基于光学系统的精密测量,相关工作近期发表在Nature Communication,Physical Review Letters,Light:Science and Applications等国际知名期刊上。

 
 
文章作者:
责任编辑:刘钰哲
 
 
 
 
 
 
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